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Journal Of Microelectromechanical Systems
收藏雜志
  • 數據庫收錄SCIE
  • 創刊年份1992年
  • 年發文(wen)量(liang)78
  • H-index131

Journal Of Microelectromechanical Systems

期刊中文名:微機電系(xi)統雜(za)志ISSN:1057-7157E-ISSN:1941-0158

該雜志(zhi)國際(ji)簡稱:J MICROELECTROMECH S,是由(you)出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的(de)一(yi)本(ben)致力于發(fa)布工程技術研究新(xin)成果(guo)的(de)的(de)專(zhuan)業學術期刊(kan)。該雜志(zhi)以ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC研究為重點(dian),主要(yao)發(fa)表(biao)刊(kan)登(deng)有創見的(de)學術論文文章、行業最新(xin)科(ke)研成果(guo),扼要(yao)報道階段性(xing)研究成果(guo)和重要(yao)研究工作的(de)最新(xin)進展(zhan),選載對學科(ke)發(fa)展(zhan)起(qi)指導作用的(de)綜述(shu)與(yu)專(zhuan)論,促進學術發(fa)展(zhan),為廣大(da)讀(du)者服務。該刊(kan)是一(yi)本(ben)國際(ji)優秀(xiu)雜志(zhi),在國際(ji)上有很高的(de)學術影(ying)響(xiang)力。

基本信息:
期刊簡稱:J MICROELECTROMECH S
是否OA:未開放
是否預警(jing):
Gold OA文(wen)章占比:20.45%
出版信息:
出版地區:UNITED STATES
出版(ban)周(zhou)期:Bimonthly
出(chu)版語言:English
出(chu)版(ban)商(shang):Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
評價信息:
中科院分區:3區
JCR分區:Q2
影響因(yin)子:2.5
CiteScore:6.2
雜(za)志介紹 中科院JCR分區 JCR分區 CiteScore 投(tou)稿經驗(yan)

雜志介紹

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志介紹

《Journal Of Microelectromechanical Systems》是一本(ben)以English為(wei)主的(de)(de)(de)(de)未(wei)開放獲(huo)取國際優秀期(qi)刊(kan),中文名(ming)稱微機電系統雜志,本(ben)刊(kan)主要(yao)出版、報道(dao)工程技術-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域(yu)的(de)(de)(de)(de)研究動態(tai)以及(ji)在(zai)該(gai)(gai)領域(yu)取得的(de)(de)(de)(de)各方(fang)面的(de)(de)(de)(de)經驗和(he)科研成果,介紹該(gai)(gai)領域(yu)有關(guan)(guan)本(ben)專業(ye)的(de)(de)(de)(de)最(zui)新(xin)進展,探討行業(ye)發展的(de)(de)(de)(de)思路(lu)和(he)方(fang)法,以促進學(xue)術信息交流,提(ti)高(gao)行業(ye)發展。該(gai)(gai)刊(kan)已被國際權威數據庫SCIE收錄,為(wei)該(gai)(gai)領域(yu)相關(guan)(guan)學(xue)科的(de)(de)(de)(de)發展起到了良好的(de)(de)(de)(de)推動作(zuo)用,也(ye)得到了本(ben)專業(ye)人(ren)員(yuan)的(de)(de)(de)(de)廣(guang)泛認可。該(gai)(gai)刊(kan)最(zui)新(xin)影響因子為(wei)2.5,最(zui)新(xin)CiteScore 指數為(wei)6.2。

本刊(kan)近期中國(guo)學(xue)者發(fa)表的(de)論(lun)文主(zhu)要有:

  • Bias Thermal Stability Improvement of Mode-Matching MEMS Gyroscope Using Mode Deflection

    Author: Wang, Peng; Li, Qingsong; Zhang, Yongmeng; Wu, Yulie; Wu, Xuezhong; Xiao, Dingbang

  • Phase Noise Optimization of MEMS Resonant Accelerometer Based on AC Polarization

    Author: Wang, Kunfeng; Xiong, Xingyin; Wang, Zheng; Ma, Liangbo; Zhai, Zhaoyang; Zou, Xudong

  • Silicon-Based Stretchable Structure via Parylene Kirigami Interconnection

    Author: Xu, Han; Zhang, Meixuan; Chen, Lang; Zhang, Pan; Jin, Yufeng; Wang, Wei

  • Analysis and Compensation of Bias Drift of Force-to-Rebalanced Micro-Hemispherical Resonator Gyroscope Caused by Assembly Eccentricity Error

    Author: Ruan, Zhihu; Ding, Xukai; Gao, Yang; Qin, Zhengcheng; Li, Hongsheng

英文介紹

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志英文介紹

The topics of interest include, but are not limited to: devices ranging in size from microns to millimeters, IC-compatible fabrication techniques, other fabrication techniques, measurement of micro phenomena, theoretical results, new materials and designs, micro actuators, micro robots, micro batteries, bearings, wear, reliability, electrical interconnections, micro telemanipulation, and standards appropriate to MEMS. Application examples and application oriented devices in fluidics, optics, bio-medical engineering, etc., are also of central interest.

中科院SCI分區

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志中科院分區信息

2023年12月升(sheng)級版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 4區

2022年12月升級(ji)版(ban)
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 4區

2021年(nian)12月舊的(de)升級(ji)版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 2區

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

2021年12月基礎(chu)版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 4區

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

2021年(nian)12月升級(ji)版(ban)
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 2區

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

2020年(nian)12月舊的升級版(ban)
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 3區
小類:

ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣 3區

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 3區

NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

中科院SCI分區:是中(zhong)(zhong)(zhong)國科(ke)學(xue)(xue)(xue)院文獻情報中(zhong)(zhong)(zhong)心科(ke)學(xue)(xue)(xue)計量(liang)中(zhong)(zhong)(zhong)心的科(ke)學(xue)(xue)(xue)研究成果。期(qi)刊分區(qu)表(biao)(biao)自2004年開始發布(bu),延續(xu)至今;2019年推出(chu)升級版(ban),實現基礎版(ban)、升級版(ban)并存過渡,2022年只發布(bu)升級版(ban),期(qi)刊分區(qu)表(biao)(biao)數據(ju)每年底發布(bu)。 中(zhong)(zhong)(zhong)科(ke)院分區(qu)為4個區(qu)。中(zhong)(zhong)(zhong)科(ke)院分區(qu)采用刊物前3年影響因子平均(jun)值進行分區(qu),即(ji)前5%為該(gai)類1區(qu),6%~20%為2區(qu)、21%~50%為3區(qu),其余(yu)的為4區(qu)。1區(qu)和(he)2區(qu)雜志(zhi)很少(shao),雜志(zhi)質量(liang)相對也高(gao),基本(ben)都是本(ben)領域的頂級期(qi)刊。

JCR分區(2023-2024年(nian)最新版(ban))

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志 JCR分區信息

按(an)JIF指標學(xue)科分區(qu)
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:165 / 352
百分位:

53.3%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:28 / 76
百分位:

63.8%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
收錄子集:SCIE
分區:Q3
排名:99 / 140
百分位:

29.6%

學科:PHYSICS, APPLIED
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:87 / 179
百分位:

51.7%

按JCI指標(biao)學科(ke)分區
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:168 / 354
百分位:

52.68%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:37 / 76
百分位:

51.97%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
收錄子集:SCIE
分區:Q3
排名:73 / 140
百分位:

48.21%

學科:PHYSICS, APPLIED
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:83 / 179
百分位:

53.91%

JCR分區:JCR分(fen)(fen)(fen)(fen)區(qu)來自科(ke)睿唯(wei)安公司,JCR是一(yi)個(ge)(ge)獨特的(de)多學科(ke)期刊(kan)(kan)(kan)評價工具,為唯(wei)一(yi)提供基于引文(wen)數據的(de)統計信息的(de)期刊(kan)(kan)(kan)評價資源。每年(nian)發布的(de)JCR分(fen)(fen)(fen)(fen)區(qu),設置(zhi)了254個(ge)(ge)具體學科(ke)。JCR分(fen)(fen)(fen)(fen)區(qu)根據每個(ge)(ge)學科(ke)分(fen)(fen)(fen)(fen)類按照期刊(kan)(kan)(kan)當年(nian)的(de)影響(xiang)因(yin)子高低將期刊(kan)(kan)(kan)平均分(fen)(fen)(fen)(fen)為4個(ge)(ge)區(qu),分(fen)(fen)(fen)(fen)別為Q1、Q2、Q3和Q4,各占25%。JCR分(fen)(fen)(fen)(fen)區(qu)中期刊(kan)(kan)(kan)的(de)數量是均勻分(fen)(fen)(fen)(fen)為四個(ge)(ge)部分(fen)(fen)(fen)(fen)的(de)。

CiteScore 評價數據(2024年最新版)

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志CiteScore 評價數據

  • CiteScore 值:6.2
  • SJR:0.744
  • SNIP:1.187
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Mechanical Engineering Q1 140 / 672

79%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 199 / 797

75%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經驗

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志投稿經驗

該雜志(zhi)是(shi)一本國(guo)(guo)際(ji)(ji)(ji)優秀(xiu)(xiu)雜志(zhi),在國(guo)(guo)際(ji)(ji)(ji)上(shang)有較高(gao)(gao)的學術影(ying)響(xiang)力,行(xing)業(ye)(ye)關注度很高(gao)(gao),已被國(guo)(guo)際(ji)(ji)(ji)權(quan)威數據庫SCIE收錄,該雜志(zhi)在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC綜(zong)合專業(ye)(ye)領域專業(ye)(ye)度認可很高(gao)(gao),對稿(gao)件內容的創新(xin)性和學術性要求很高(gao)(gao),作(zuo)為一本國(guo)(guo)際(ji)(ji)(ji)優秀(xiu)(xiu)雜志(zhi),一般投(tou)稿(gao)過審時(shi)(shi)間都(dou)較長,投(tou)稿(gao)過審時(shi)(shi)間平均 約3.0個月 ,如果(guo)想(xiang)投(tou)稿(gao)該刊要做(zuo)好時(shi)(shi)間安排(pai)。版面費(fei)不祥。該雜志(zhi)近兩年(nian)未被列入(ru)預(yu)警名單,建議您投(tou)稿(gao)。如您想(xiang)了(le)解更多投(tou)稿(gao)政(zheng)策及投(tou)稿(gao)方案,請咨(zi)詢客服。

免責聲明

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