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Metrology And Measurement Systems
收藏雜志
  • 數(shu)據庫收錄SCIE
  • 創刊(kan)年份1988年
  • 年發文量52
  • H-index24

Metrology And Measurement Systems

期(qi)刊中(zhong)文名:計(ji)量和測量系統ISSN:0860-8229E-ISSN:2300-1941

該雜志國際(ji)(ji)簡(jian)稱:METROL MEAS SYST,是(shi)由出版(ban)商(shang)Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation出版(ban)的(de)(de)(de)一本致(zhi)力(li)于發(fa)(fa)布工(gong)程技(ji)術研(yan)究(jiu)新(xin)成(cheng)(cheng)果的(de)(de)(de)的(de)(de)(de)專業學(xue)術期刊(kan)。該雜志以INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研(yan)究(jiu)為(wei)重(zhong)(zhong)點,主要發(fa)(fa)表(biao)刊(kan)登有創見的(de)(de)(de)學(xue)術論(lun)文(wen)文(wen)章、行業最新(xin)科研(yan)成(cheng)(cheng)果,扼要報道階段性(xing)研(yan)究(jiu)成(cheng)(cheng)果和重(zhong)(zhong)要研(yan)究(jiu)工(gong)作的(de)(de)(de)最新(xin)進展,選載對學(xue)科發(fa)(fa)展起指導作用的(de)(de)(de)綜述與專論(lun),促進學(xue)術發(fa)(fa)展,為(wei)廣大讀(du)者服務。該刊(kan)是(shi)一本國際(ji)(ji)優秀雜志,在國際(ji)(ji)上有很高的(de)(de)(de)學(xue)術影響力(li)。

基本信息:
期(qi)刊(kan)簡稱:METROL MEAS SYST
是否OA:開放
是(shi)否預警:
Gold OA文章(zhang)占(zhan)比(bi):100.00%
出版信息:
出版地(di)區(qu):Poland
出版周期:Quarterly
出(chu)版(ban)語言:English
出版商:Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation
評價信息:
中科院分區:4區
JCR分區(qu):Q4
影響因子:1
CiteScore:2
雜(za)志(zhi)介紹 中科院JCR分(fen)區(qu) JCR分區(qu) CiteScore 投稿經驗

雜志介紹

Metrology And Measurement Systems雜志介紹

《Metrology And Measurement Systems》是一本(ben)(ben)以English為主(zhu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)開放獲取國際(ji)優秀期刊,中(zhong)文名稱(cheng)計量和測量系統(tong),本(ben)(ben)刊主(zhu)要出版、報道工程(cheng)技術(shu)-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(ling)域的(de)(de)(de)(de)(de)(de)研(yan)究動態以及在該(gai)領(ling)域取得的(de)(de)(de)(de)(de)(de)各方面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)經(jing)驗和科研(yan)成果,介(jie)紹(shao)該(gai)領(ling)域有(you)關本(ben)(ben)專業的(de)(de)(de)(de)(de)(de)最(zui)新進展,探討行業發展的(de)(de)(de)(de)(de)(de)思(si)路和方法,以促進學術(shu)信息交流(liu),提高行業發展。該(gai)刊已被國際(ji)權(quan)威數(shu)據庫SCIE收錄,為該(gai)領(ling)域相(xiang)關學科的(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展起到了良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)推動作(zuo)用,也(ye)得到了本(ben)(ben)專業人員的(de)(de)(de)(de)(de)(de)廣泛(fan)認可。該(gai)刊最(zui)新影響因子為1,最(zui)新CiteScore 指數(shu)為2。

英文介紹

Metrology And Measurement Systems雜志英文介紹

Contributions are invited on all aspects of the research, development and applications of the measurement science and technology.

The list of topics covered includes: theory and general principles of measurement; measurement of physical, chemical and biological quantities; medical measurements; sensors and transducers; measurement data acquisition; measurement signal transmission; processing and data analysis; measurement systems and embedded systems; design, manufacture and evaluation of instruments.

The average publication cycle is 6 months.

中科院SCI分區

Metrology And Measurement Systems雜志中科院分區信息

2023年12月升級版(ban)
綜述:否(fou)
TOP期刊:否(fou)
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

2022年12月升級版
綜述:否(fou)
TOP期刊:
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

2021年12月舊的升級版(ban)
綜述:否(fou)
TOP期刊:
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

2021年(nian)12月基礎版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

2021年(nian)12月升級(ji)版
綜述:
TOP期刊:
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

2020年12月舊的升級版
綜述:
TOP期刊:否(fou)
大類:工程技術 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

中科院SCI分區:是中國科(ke)(ke)學(xue)院文獻情報中心科(ke)(ke)學(xue)計量中心的科(ke)(ke)學(xue)研究成果(guo)。期刊(kan)(kan)分(fen)區(qu)表(biao)自(zi)2004年開始發布(bu),延續至今(jin);2019年推出升(sheng)級版,實現基(ji)礎版、升(sheng)級版并存過(guo)渡(du),2022年只發布(bu)升(sheng)級版,期刊(kan)(kan)分(fen)區(qu)表(biao)數據每年底發布(bu)。 中科(ke)(ke)院分(fen)區(qu)為(wei)4個區(qu)。中科(ke)(ke)院分(fen)區(qu)采(cai)用刊(kan)(kan)物前3年影響因子平均(jun)值進行分(fen)區(qu),即前5%為(wei)該類1區(qu),6%~20%為(wei)2區(qu)、21%~50%為(wei)3區(qu),其余的為(wei)4區(qu)。1區(qu)和(he)2區(qu)雜志很少(shao),雜志質量相對也高(gao),基(ji)本(ben)(ben)都是本(ben)(ben)領(ling)域(yu)的頂級期刊(kan)(kan)。

JCR分區(2023-2024年最新版)

Metrology And Measurement Systems雜志 JCR分區信息

按JIF指標學科分區
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q4
排名:62 / 76
百分位:

19.1%

按JCI指(zhi)標學(xue)科分(fen)區
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q4
排名:64 / 76
百分位:

16.45%

JCR分區:JCR分(fen)區(qu)(qu)來(lai)自科(ke)(ke)睿唯(wei)安公司,JCR是一個(ge)(ge)獨特的(de)(de)(de)多學(xue)科(ke)(ke)期(qi)(qi)刊評(ping)價工(gong)具,為(wei)唯(wei)一提供基于引文(wen)數據的(de)(de)(de)統計信息的(de)(de)(de)期(qi)(qi)刊評(ping)價資源。每年(nian)發布的(de)(de)(de)JCR分(fen)區(qu)(qu),設置了254個(ge)(ge)具體(ti)學(xue)科(ke)(ke)。JCR分(fen)區(qu)(qu)根據每個(ge)(ge)學(xue)科(ke)(ke)分(fen)類按照期(qi)(qi)刊當年(nian)的(de)(de)(de)影響因子高低將期(qi)(qi)刊平(ping)均(jun)分(fen)為(wei)4個(ge)(ge)區(qu)(qu),分(fen)別為(wei)Q1、Q2、Q3和Q4,各占25%。JCR分(fen)區(qu)(qu)中期(qi)(qi)刊的(de)(de)(de)數量是均(jun)勻分(fen)為(wei)四(si)個(ge)(ge)部分(fen)的(de)(de)(de)。

CiteScore 評價數據(2024年最新(xin)版)

Metrology And Measurement Systems雜志CiteScore 評價數據

  • CiteScore 值:2
  • SJR:0.251
  • SNIP:0.61
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Control and Systems Engineering Q3 209 / 321

35%

大類:Engineering 小類:Instrumentation Q3 106 / 141

25%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經驗

Metrology And Measurement Systems雜志投稿經驗

該(gai)雜志(zhi)是一本國際(ji)優(you)秀雜志(zhi),在國際(ji)上有(you)較高的學術影響(xiang)力,行業(ye)關注度很(hen)高,已(yi)被國際(ji)權威數據庫SCIE收錄,該(gai)雜志(zhi)在INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION綜合專(zhuan)業(ye)領域(yu)專(zhuan)業(ye)度認(ren)可很(hen)高,對稿(gao)(gao)(gao)件內容的創新性(xing)和學術性(xing)要(yao)求很(hen)高,作(zuo)為(wei)一本國際(ji)優(you)秀雜志(zhi),一般投稿(gao)(gao)(gao)過審(shen)時(shi)(shi)間都較長,投稿(gao)(gao)(gao)過審(shen)時(shi)(shi)間平(ping)均 較慢,6-12周(zhou) ,如果想投稿(gao)(gao)(gao)該(gai)刊要(yao)做好時(shi)(shi)間安排。版面(mian)費不祥。該(gai)雜志(zhi)近(jin)兩年未被列入預警(jing)名單,建(jian)議(yi)您投稿(gao)(gao)(gao)。如您想了解更多投稿(gao)(gao)(gao)政策及投稿(gao)(gao)(gao)方案,請咨詢客服(fu)。

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