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數據庫收錄SCIE
創刊年份(fen)2009年
年發文量98
H-index13

Mapan-journal Of Metrology Society Of India

期(qi)刊中文名：印度計量學會(hui)馬潘雜志ISSN：0970-3950E-ISSN：0974-9853

該(gai)雜志(zhi)國際簡(jian)稱：MAPAN-J METROL SOC I，是(shi)由出版商Springer India出版的(de)一本(ben)致力于發布(bu)工(gong)程技術(shu)研(yan)究(jiu)新成果(guo)的(de)的(de)專業(ye)學(xue)術(shu)期刊(kan)(kan)。該(gai)雜志(zhi)以INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研(yan)究(jiu)為重點，主要(yao)(yao)發表刊(kan)(kan)登有(you)創見的(de)學(xue)術(shu)論(lun)文(wen)文(wen)章(zhang)、行業(ye)最新科研(yan)成果(guo)，扼(e)要(yao)(yao)報(bao)道階段性研(yan)究(jiu)成果(guo)和重要(yao)(yao)研(yan)究(jiu)工(gong)作的(de)最新進展，選載對學(xue)科發展起指導作用的(de)綜述與專論(lun)，促進學(xue)術(shu)發展，為廣大(da)讀者服務。該(gai)刊(kan)(kan)是(shi)一本(ben)國際優秀(xiu)雜志(zhi)，在國際上有(you)很高的(de)學(xue)術(shu)影響力。

基本信息：: 期刊簡稱：MAPAN-J METROL SOC I; 是(shi)否OA：未開放; 是否(fou)預(yu)警(jing)：否; Gold OA文章占比：3.23%

出版信息：: 出(chu)版地區：INDIA; 出版周期：Quarterly; 出版語言：English; 出(chu)版商：Springer India

評價信息：: 中(zhong)科院分(fen)區：4區; JCR分區：Q4; 影(ying)響因子：1; CiteScore：2.3

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雜志介紹中(zhong)科院JCR分(fen)區(qu) JCR分區 CiteScore 投(tou)稿經驗

雜志介紹

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志介紹

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》是(shi)一本以(yi)(yi)English為(wei)主(zhu)的(de)未(wei)開放獲(huo)取國際(ji)優秀期刊(kan)(kan)，中文名稱(cheng)印度計量學會(hui)馬潘雜志，本刊(kan)(kan)主(zhu)要出版、報道工程技(ji)術-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(ling)域(yu)的(de)研究(jiu)動態以(yi)(yi)及在該(gai)領(ling)域(yu)取得的(de)各方面的(de)經驗和科(ke)研成(cheng)果，介紹該(gai)領(ling)域(yu)有關本專(zhuan)業(ye)的(de)最(zui)新進展，探討行(xing)業(ye)發(fa)展的(de)思路和方法，以(yi)(yi)促(cu)進學術信息交流，提高行(xing)業(ye)發(fa)展。該(gai)刊(kan)(kan)已被國際(ji)權(quan)威數據庫SCIE收錄，為(wei)該(gai)領(ling)域(yu)相關學科(ke)的(de)發(fa)展起到了(le)良好的(de)推動作用，也(ye)得到了(le)本專(zhuan)業(ye)人員的(de)廣(guang)泛認可。該(gai)刊(kan)(kan)最(zui)新影響因(yin)子(zi)為(wei)1，最(zui)新CiteScore 指數為(wei)2.3。

本刊(kan)近期中(zhong)國學者發(fa)表(biao)的論文主要(yao)有：

Design of Measuring and Controlling Circuit for Digital Output MEMS Gyroscope with Zero Output Correction
Author: Ma, Cheng; Cao, Shanshan; Leng, Shuang
Method of Online Measurement and Assessment for the Deformation of Mining Ventilator Blade Based on Data Driven
Author: Li, Xue-Zhe; Shen, Yao; Wang, Yan-Xin; Wang, Fei
Wall-Climbing Robot System for Volume Calibration of Large Vertical Storage Tank
Author: Wang, Jintao; Jintao, Wang; Xiang, Liu; Jingyue, Zhang; Lin, Tong; Ligong, Guo; Xuesong, Bao
A Portable Online Current Monitoring System with High Precision
Author: Zhenhua Li, Chunyan Li

英文介紹

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志英文介紹

MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.

The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.

中科院SCI分區

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志中科院分區信息

2023年12月升(sheng)級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

2022年(nian)12月升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

2021年12月舊的升級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

2021年12月基(ji)礎版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

2021年12月升級版(ban)

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

2020年12月舊的升(sheng)級版

綜述：否

TOP期刊：否

大類：工程技術 4區

小類：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

PHYSICS, APPLIED
物理：應用 4區

中科院SCI分區：是中(zhong)國科學院(yuan)文(wen)獻(xian)情報中(zhong)心科學計量(liang)中(zhong)心的(de)科學研究成果(guo)。期刊(kan)分(fen)區(qu)表(biao)自(zi)2004年開(kai)始發(fa)布(bu)，延續至今(jin)；2019年推(tui)出升級版(ban)，實現基礎版(ban)、升級版(ban)并存過渡，2022年只發(fa)布(bu)升級版(ban)，期刊(kan)分(fen)區(qu)表(biao)數據每年底發(fa)布(bu)。中(zhong)科院(yuan)分(fen)區(qu)為(wei)4個(ge)區(qu)。中(zhong)科院(yuan)分(fen)區(qu)采(cai)用刊(kan)物前3年影響因子平(ping)均值進(jin)行分(fen)區(qu),即前5%為(wei)該(gai)類1區(qu)，6%～20%為(wei)2區(qu)、21%～50%為(wei)3區(qu)，其(qi)余的(de)為(wei)4區(qu)。1區(qu)和2區(qu)雜志(zhi)(zhi)很(hen)少，雜志(zhi)(zhi)質量(liang)相對也(ye)高(gao)，基本都是本領域(yu)的(de)頂級期刊(kan)。

JCR分區（2023-2024年最新版）

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志 JCR分區信息

按JIF指標學科分區

學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

收錄子集：SCIE

分區：Q4

排名：62 / 76

百分位：

19.1%

學科：PHYSICS, APPLIED

收錄子集：SCIE

分區：Q4

排名：157 / 179

百分位：

12.6%

按JCI指標學科分區

學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION

收錄子集：SCIE

分區：Q4

排名：68 / 76

百分位：

11.18%

學科：PHYSICS, APPLIED

收錄子集：SCIE

分區：Q4

排名：152 / 179

百分位：

15.36%

JCR分區：JCR分(fen)(fen)(fen)區(qu)來自科睿唯安公司,JCR是(shi)(shi)一個(ge)獨特的(de)(de)多學(xue)科期(qi)刊(kan)(kan)(kan)評價(jia)工具，為唯一提供基(ji)于引文數(shu)據的(de)(de)統計信息的(de)(de)期(qi)刊(kan)(kan)(kan)評價(jia)資(zi)源。每年發布的(de)(de)JCR分(fen)(fen)(fen)區(qu)，設置了254個(ge)具體學(xue)科。JCR分(fen)(fen)(fen)區(qu)根據每個(ge)學(xue)科分(fen)(fen)(fen)類按(an)照(zhao)期(qi)刊(kan)(kan)(kan)當年的(de)(de)影響因(yin)子(zi)高(gao)低(di)將期(qi)刊(kan)(kan)(kan)平均分(fen)(fen)(fen)為4個(ge)區(qu)，分(fen)(fen)(fen)別為Q1、Q2、Q3和Q4，各占(zhan)25%。JCR分(fen)(fen)(fen)區(qu)中期(qi)刊(kan)(kan)(kan)的(de)(de)數(shu)量是(shi)(shi)均勻分(fen)(fen)(fen)為四個(ge)部分(fen)(fen)(fen)的(de)(de)。

CiteScore 評價數據（2024年最新版）

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志CiteScore 評價數據

CiteScore 值：2.3
SJR：0.263
SNIP：0.61

學科類別	分區	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Physics and Astronomy (miscellaneous)	Q2	40 / 81	51%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經驗

Mapan-journal Of Metrology Society Of India雜志投稿經驗

該雜志(zhi)是一(yi)本國(guo)際(ji)(ji)優秀雜志(zhi)，在(zai)(zai)國(guo)際(ji)(ji)上有(you)較高的學術影(ying)響力，行業(ye)(ye)關(guan)注度(du)很(hen)(hen)高，已被國(guo)際(ji)(ji)權威數據庫SCIE收(shou)錄，該雜志(zhi)在(zai)(zai)INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION綜合專(zhuan)業(ye)(ye)領域專(zhuan)業(ye)(ye)度(du)認(ren)可(ke)很(hen)(hen)高，對稿(gao)(gao)(gao)(gao)件內容的創新(xin)性和學術性要(yao)求很(hen)(hen)高，作為(wei)一(yi)本國(guo)際(ji)(ji)優秀雜志(zhi)，一(yi)般投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)過審(shen)時(shi)間(jian)都較長，投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)過審(shen)時(shi)間(jian)平(ping)均(jun) 12周，或約(yue)稿(gao)(gao)(gao)(gao) ，如果想投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)該刊要(yao)做好時(shi)間(jian)安排。版面費不祥(xiang)。該雜志(zhi)近兩年未(wei)被列入預警名單，建議您(nin)投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)。如您(nin)想了解更多(duo)投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)政策及投(tou)(tou)(tou)(tou)稿(gao)(gao)(gao)(gao)方(fang)案，請咨(zi)詢客服。