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Journal Of X-ray Science And Technology
收藏雜志(zhi)
  • 數據庫收錄SCIE
  • 創刊年份1989年
  • 年發文量84
  • H-index28

Journal Of X-ray Science And Technology

期刊中(zhong)文名(ming):X射線科學與(yu)技(ji)術雜志ISSN:0895-3996E-ISSN:1095-9114

該(gai)雜志(zhi)國際(ji)簡(jian)稱:J X-RAY SCI TECHNOL,是由出版商IOS Press出版的(de)一(yi)本致力(li)于發布(bu)醫學研(yan)究(jiu)新(xin)成(cheng)果(guo)的(de)的(de)專業學術期刊。該(gai)雜志(zhi)以INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研(yan)究(jiu)為重點,主要發表刊登(deng)有(you)創見的(de)學術論文文章(zhang)、行業最(zui)新(xin)科研(yan)成(cheng)果(guo),扼要報(bao)道階段性研(yan)究(jiu)成(cheng)果(guo)和(he)重要研(yan)究(jiu)工作的(de)最(zui)新(xin)進展,選載對(dui)學科發展起指導作用(yong)的(de)綜述與專論,促進學術發展,為廣大讀者服務。該(gai)刊是一(yi)本國際(ji)優秀雜志(zhi),在國際(ji)上有(you)很高的(de)學術影響力(li)。

基本信息:
期刊簡(jian)稱:J X-RAY SCI TECHNOL
是否(fou)OA:未開放
是否預警:
Gold OA文章(zhang)占(zhan)比:5.91%
出版信息:
出版地區:NETHERLANDS
出版周期:Quarterly
出版語言:English
出版(ban)商:IOS Press
評價信息:
中(zhong)科(ke)院分區:3區
JCR分區:Q3
影響(xiang)因子:1.7
CiteScore:4.9
雜志介紹 中科院JCR分區 JCR分區(qu) CiteScore 投(tou)稿(gao)經驗

雜志介紹

Journal Of X-ray Science And Technology雜志介紹

《Journal Of X-ray Science And Technology》是一本以English為(wei)主(zhu)的(de)(de)未(wei)開(kai)放獲取國(guo)際優秀(xiu)期刊,中(zhong)文(wen)名(ming)稱X射線科學(xue)與技術雜志,本刊主(zhu)要出版、報道(dao)醫學(xue)-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(ling)(ling)域(yu)的(de)(de)研究動態(tai)以及在該領(ling)(ling)域(yu)取得(de)的(de)(de)各(ge)方面的(de)(de)經驗和科研成(cheng)果,介紹該領(ling)(ling)域(yu)有關(guan)本專業(ye)的(de)(de)最(zui)新(xin)(xin)進展(zhan),探(tan)討行(xing)(xing)業(ye)發(fa)展(zhan)的(de)(de)思路和方法,以促進學(xue)術信息交流,提高(gao)行(xing)(xing)業(ye)發(fa)展(zhan)。該刊已被國(guo)際權(quan)威(wei)數(shu)據庫SCIE收錄(lu),為(wei)該領(ling)(ling)域(yu)相(xiang)關(guan)學(xue)科的(de)(de)發(fa)展(zhan)起到了良好的(de)(de)推動作(zuo)用,也(ye)得(de)到了本專業(ye)人員的(de)(de)廣(guang)泛認可。該刊最(zui)新(xin)(xin)影響因子(zi)為(wei)1.7,最(zui)新(xin)(xin)CiteScore 指數(shu)為(wei)4.9。

本刊近期中國學者發(fa)表的論文(wen)主要有(you):

  • Super-resolution image reconstruction from sparsity regularization and deep residual-learned priors

    Author: Zhong, Xinyi; Liang, Ningning; Cai, Ailong; Yu, Xiaohuan; Li, Lei; Yan, Bin

  • Mineral quantitative characterization method based on basis material decomposition model by dual-energy computed tomography

    Author: Zhi, Weijuan; Zou, Jing; Zhao, Jintao; Xia, Xiaoqin

  • An Innovative Low-dose CT Inpainting Algorithm based on Limited-angle Imaging Inpainting Model

    Author: Zhang, Ziheng; Yang, Minghan; Li, Huijuan; Chen, Shuai; Wang, Jianye; Xu, Lei

  • Radiomics nomogram for predicting axillary lymph node metastasis in breast cancer based on DCE-MRI: A multicenter study

    Author: Zhang, Jiwen; Zhang, Zhongsheng; Mao, Ning; Zhang, Haicheng; Gao, Jing; Wang, Bin; Ren, Jianlin; Liu, Xin; Zhang, Binyue; Dou, Tingyao; Li, Wenjuan; Wang, Yanhong; Jia, Hongyan

英文介紹

Journal Of X-ray Science And Technology雜志英文介紹

Research areas within the scope of the journal include:

Interaction of x-rays with matter: x-ray phenomena, biological effects of radiation, radiation safety and optical constants

X-ray sources: x-rays from synchrotrons, x-ray lasers, plasmas, and other sources, conventional or unconventional

Optical elements: grazing incidence optics, multilayer mirrors, zone plates, gratings, other diffraction optics

Optical instruments: interferometers, spectrometers, microscopes, telescopes, microprobes

中科院SCI分區

Journal Of X-ray Science And Technology雜志中科院分區信息

2023年12月升級版
綜述:
TOP期刊:
大類:醫學 3區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 3區

OPTICS
光學 3區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 3區

2022年(nian)12月升級版
綜述:否(fou)
TOP期刊:
大類:醫學 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

OPTICS
光學 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

2021年12月舊(jiu)的升(sheng)級版
綜述:否(fou)
TOP期刊:否(fou)
大類:醫學 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

OPTICS
光學 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

2021年(nian)12月基礎版
綜述:
TOP期刊:
大類:醫學 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

OPTICS
光學 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

2021年(nian)12月升(sheng)級版
綜述:
TOP期刊:
大類:醫學 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

OPTICS
光學 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

2020年12月舊的升級版
綜述:
TOP期刊:
大類:醫學 4區
小類:

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表 4區

OPTICS
光學 4區

PHYSICS, APPLIED
物理:應用 4區

中科院SCI分區:是中(zhong)(zhong)國(guo)科(ke)學院文(wen)獻情報中(zhong)(zhong)心科(ke)學計量(liang)中(zhong)(zhong)心的(de)科(ke)學研究成果(guo)。期(qi)刊分區(qu)(qu)(qu)(qu)表自2004年(nian)(nian)開(kai)始發布(bu),延續至今;2019年(nian)(nian)推(tui)出升(sheng)級(ji)版(ban),實現基(ji)(ji)礎(chu)版(ban)、升(sheng)級(ji)版(ban)并存過(guo)渡,2022年(nian)(nian)只發布(bu)升(sheng)級(ji)版(ban),期(qi)刊分區(qu)(qu)(qu)(qu)表數(shu)據(ju)每(mei)年(nian)(nian)底發布(bu)。 中(zhong)(zhong)科(ke)院分區(qu)(qu)(qu)(qu)為(wei)4個區(qu)(qu)(qu)(qu)。中(zhong)(zhong)科(ke)院分區(qu)(qu)(qu)(qu)采用刊物前3年(nian)(nian)影響因子平(ping)均(jun)值進行分區(qu)(qu)(qu)(qu),即(ji)前5%為(wei)該類1區(qu)(qu)(qu)(qu),6%~20%為(wei)2區(qu)(qu)(qu)(qu)、21%~50%為(wei)3區(qu)(qu)(qu)(qu),其(qi)余的(de)為(wei)4區(qu)(qu)(qu)(qu)。1區(qu)(qu)(qu)(qu)和2區(qu)(qu)(qu)(qu)雜志很(hen)少,雜志質量(liang)相對(dui)也高,基(ji)(ji)本都是本領域的(de)頂級(ji)期(qi)刊。

JCR分區(2023-2024年最新版)

Journal Of X-ray Science And Technology雜志 JCR分區信息

按JIF指標學科分區
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q3
排名:44 / 76
百分位:

42.8%

學科:OPTICS
收錄子集:SCIE
分區:Q3
排名:73 / 119
百分位:

39.1%

學科:PHYSICS, APPLIED
收錄子集:SCIE
分區:Q3
排名:125 / 179
百分位:

30.4%

按JCI指(zhi)標學科(ke)分區
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:35 / 76
百分位:

54.61%

學科:OPTICS
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:59 / 120
百分位:

51.25%

學科:PHYSICS, APPLIED
收錄子集:SCIE
分區:Q2
排名:77 / 179
百分位:

57.26%

JCR分區:JCR分區(qu)(qu)(qu)來自科睿(rui)唯(wei)安公司,JCR是一(yi)個獨特(te)的(de)多學科期(qi)(qi)刊(kan)評價工具(ju),為(wei)唯(wei)一(yi)提供(gong)基于(yu)引文數據的(de)統計信息的(de)期(qi)(qi)刊(kan)評價資源。每(mei)年發布的(de)JCR分區(qu)(qu)(qu),設(she)置(zhi)了254個具(ju)體學科。JCR分區(qu)(qu)(qu)根據每(mei)個學科分類按照期(qi)(qi)刊(kan)當年的(de)影響(xiang)因子高低將期(qi)(qi)刊(kan)平均分為(wei)4個區(qu)(qu)(qu),分別為(wei)Q1、Q2、Q3和Q4,各(ge)占25%。JCR分區(qu)(qu)(qu)中期(qi)(qi)刊(kan)的(de)數量是均勻分為(wei)四個部分的(de)。

CiteScore 評價數據(2024年(nian)最新(xin)版)

Journal Of X-ray Science And Technology雜志CiteScore 評價數據

  • CiteScore 值:4.9
  • SJR:0.501
  • SNIP:0.791
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Medicine 小類:Radiology, Nuclear Medicine and Imaging Q2 103 / 333

69%

大類:Medicine 小類:Radiation Q2 19 / 58

68%

大類:Medicine 小類:Instrumentation Q2 46 / 141

67%

大類:Medicine 小類:Condensed Matter Physics Q2 141 / 434

67%

大類:Medicine 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 264 / 797

66%

歷年影響因子和期刊自引率

投稿經驗

Journal Of X-ray Science And Technology雜志投稿經驗

該(gai)雜(za)志(zhi)是一(yi)本(ben)國(guo)(guo)(guo)際(ji)(ji)優秀雜(za)志(zhi),在(zai)國(guo)(guo)(guo)際(ji)(ji)上(shang)有較高的(de)學術(shu)影響力,行業(ye)關(guan)注度(du)很(hen)高,已被國(guo)(guo)(guo)際(ji)(ji)權(quan)威數(shu)據庫(ku)SCIE收錄,該(gai)雜(za)志(zhi)在(zai)INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION綜合專業(ye)領(ling)域專業(ye)度(du)認可(ke)很(hen)高,對稿件(jian)內容的(de)創新性(xing)和學術(shu)性(xing)要求(qiu)很(hen)高,作為一(yi)本(ben)國(guo)(guo)(guo)際(ji)(ji)優秀雜(za)志(zhi),一(yi)般投稿過審時間都較長,投稿過審時間平均(jun) 約(yue)3.0個月 ,如(ru)果想投稿該(gai)刊(kan)要做好(hao)時間安排。版面(mian)費不祥。該(gai)雜(za)志(zhi)近兩年未被列入預警名單,建議您(nin)投稿。如(ru)您(nin)想了解(jie)更多(duo)投稿政策及(ji)投稿方案(an),請(qing)咨(zi)詢客服。

免責聲明

若用(yong)戶需要出(chu)版服(fu)務,請聯系(xi)出(chu)版商:IOS PRESS, NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG。